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能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。
配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能
尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化，可进行RoHS法规5元素+氯元素（选配）的高速筛选分析。EDX-LE从开始分析到得到结果只需要（根据样品）约1分钟。不仅可进行高速筛选分析，同时维持了高可信性的分析水平
配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义
在日常操作中根据产品的不同会经常变更管理值，而该产品可以根据管理方法对筛选分析条件轻松自定义。从开始分析到制成分析报告所有操作都可以更有效的进行。另一方面，该装置在软件操作上配备了权限限制设定，从而避免了没有变更筛选分析条件权限的人员由于误操作而改变条件的现象。
筛选分析的简单设定
根据材质和元素设定阈值。根据阈值的输入方法来变更筛选分析的判定方式。阈值设定可依据根据材质的不同所显示的阈值下限。
在分析报告中如何表示分析结果“低于阈值”“灰色区域”“阈值范围内”，也可自定义设置。
分析报告的模版也可以设定。可在随机附带的模版中选择。
条件保护功能
通过输入密码可变更筛选分析条件和环境设定等各类设定条件，从而提高软件操作的安全性和保密性。
RoHS、卤素、Sb元素筛选分析套件
在RoHS/ELV、卤素筛选分析基础上实现Sb元素的测定
无需改造硬件
仅需替换管理样品
RoHS指令、卤素和Sb元素的7种元素(Cd,Pb,Hg,Br,Cr,Cl,Sb)能够在「同一条件」下进行测定
※初次导入时需要本公司工程师进行软件设定的变更及性能确认。
※根据使用环境的不同有可能出现需要软件升级的情况。
规格
| 材 质 | 聚乙烯树脂 |
| 大 小 | 48mm |
| 厚 度 | 5mm |
| 添加元素 | Cd, Pb, Hg, Br, Cr, Cl, Sb |
可以同时进行Sb元素的筛选分析
RoHS指令、卤素和Sb元素的7种元素能够在“同一条件”下进行测定。
EDX-LE测定Cl、Sb
塑胶中Cl、Sb
塑胶中Cl、Sb不同浓度の光谱比较
和RoHS筛选分析同样，EDX-LE 也可进行Cl、Sb的筛选分析。特别是Cl筛选分析可直接在大气环境下进行，大气环境中Ar和Cl的峰值区分明显。
RoHS/ELV筛选专用机型EDX-LE同样具备一般分析功能！
导入后特点
1. 可进行RoHS/ELV对象元素以外的定性·定量分析！
2. 根据分析目的的不同，可设定详细的分析条件和解析条件！
3. 可通过薄膜FP法分析多层膜的膜厚、组成及其附着量！
4. 可通过匹配功能进行钢种及种类的判断！
使用功能追加套件的分析实例
分析实例（左：不锈钢的定性・定量分析，右：镀层的膜厚测定）
匹配功能（钢种、种类判断）
匹配结果
注）根据样品材质、膜层材质及膜厚的不同，有可能出现不适用本套件的情况。
